Y-F Li

System Reliability Assessment and Optimization - Methods and Applications, Hardback

Код товара: 3f0d4334-ac27-51e6-861d-a8c8c0ced31a

Продано и доставлено: Elefant

Стоимость доставки: будет рассчитываться при оформлении заказа

3.822,0 lei +3 822 puncte

Бонусные очки: +3 822 puncte
Планируемая дата доставки:

Бесплатная доставка

в Пункте приема от 99,9 лей

Бесплатный возврат

Даже распечатанный

Проверка посылки

Перед оплатой

Описание подробности

Описание

Publisher: John Wiley and Sons Ltd
Author(s): Y-F Li
Number of pages: 272
Publication date: 2022
Dimensions: 175 x 251 x 22
Cover type: Hardback

Redescopera farmecul lecturii si alege-ti de pe elefant.ro carti in limba engleza scrise de autori consacrati. Iti punem la dispozitie sute de mii de carti online, de dragoste si beletristica, memorii si jurnale, carti de copii, volume motivationale si multe altele.

Daca aceasta carte ti-a atras atentia, descrierea ei va fi disponibila in curand. Intre timp, pentru mai multe detalii, ne poti scrie la adresa de email: contact@elefant.ro.

Ещёменьше

подробности

Autor: Y-F Li
Editura: John Wiley and Sons Ltd
Anul aparitiei: 2.022
Luna aparitiei: 8
Tip coperta: Cartonata
Numar de pagini: 272
Format: 175 x 251
isbn: 1119265878
EANCode: 9781119265870
Tara de origine: Statele Unite ale Americii

Ещёменьше

Отзывы

Мы хотели бы узнать Ваше мнение! Оценить и пересмотреть этот пункт

Нет ни одного отзыва от других пользователей.